测试，芯片esd静电测试，芯片老化测试（也就是芯片质量验证）

　　以及芯片稳定性测试，在温度（零下30度和高温50度）进行测试，确定芯片是否能正常工作…

　　李飞先是对mp3芯片的引脚的连通性测试，芯片漏电流测试，dc(直流)测试，这是芯片测试的第一步，检测mp3芯片的连通性是否正常，确定芯片的内部电路连通，芯片内部电路是否有缺陷。

　　如果测试不通过，芯片内部存在电路短路…等问题，那么，后面的就直接不用测试，需要重新设计或者制造…

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　　mp3芯片的引脚的连通性测试..等功能测试合格后，接下来对mp3芯片的性能和功能测试了，不过，需要注意的是，如果用手动去测试mp3芯片一个个的功能，那是非常耽误时间，是非常没有效率。

　　一般情况下，会用c语言编写测试软件代码（不同的ate仪器会用不同的语言编程），导入ate仪器，对mp3芯片针对性的测试，

　　用c语言编写测试软件的好处是通过ate仪器能快速自动扫描芯片内部电路是否符合设计规定和是否有设计的缺陷，非常简单方便，

　　然后，把测试软件导入ate设备，对mp3芯片的性能和功能进行测试，操控ate仪器对mp3芯片进行测试，

　　先是，ate设备给定激烈信号到mp3芯片的输入管脚上，确定输出的信号是否正常，和在mp3芯片设计仿真时的信号是否一致，

　　而这个激励信号，可以是：电流，电压，波形信号，静电等等信号…，在根据这个测试的结果，就可以明确地确定mp3芯片的性能和功能是否合格。

　　那么，测试mp3芯片的功能，对mp3芯片的信号输入脚输入一组aac音频格式信号波形（也可以为cd音乐格式），

　　然后，检测mp3芯片输出管脚的波形是否正常，从mp3芯片输入端aac音乐格式的信号，到输出的信号是否20hz-22khz模拟信号。

　　这样的话，就可以直接检测mp3芯片内部解码电路，a/d转码电路…等相关电路工作是否正常！！！

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　　总之，利用软件测试mp3芯片的性能和功能时比较快，也比较方便的，也比较准确的！！！，

　　最后，测试mp3芯片的电压，以及确定芯片的电压范围，再测试芯片的电流，以及静态电流…，

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　　检测完mp3芯片的性能和功能，以及确定电压输入和功耗后，花费了一天的时间，当然，李飞从100片样品中，抽检了30片，其中测试的结果都是一致的，基本符合当初的设计制定的规则！！！

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　　不过，需要说明的是，还要对mp3芯片进行老化测试...，需要耗费时间的更长…，需要花费2周的时间。

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　　接下来，就是要根据ate测试的数据，准备制定mp3芯片的datasheet，

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　　同时，三位研发助手对mp3整机测试结果，面带惊喜的表情，兴奋道：

　　李工，这mp3的电路完全不用调试，直接装上7号电池，就可以正常播放音乐了，

　　李工，这mp3整机电流真是小，根据功耗推算，一节7号电池在正常音量播放下，可以连续使用70小时…

　　李工，这mp3输出的音值太好了，如同cd音乐格式…。

　　面对，mp3整机测试结果，这是李飞所预估的，其实还是体现在芯片研发积累的经验...。

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